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www designelektronik de DESIGN&ELEKTRONIK 03 2021 19 ~41 ns sein wenn der erste Durchgang der 90-Prozent-Schwelle verwendet wird dargestellt mit der oberen horizontalen orangefarbenen Markierung oder ~23 ns wenn der dritte Durchgang der 90-ProzentSchwelle verwendet wird Die Standarddefinitionen für Parameterextraktionen führen nicht immer zu konsistenten Ergebnissen wenn reale Signalformen Ringing aufweisen und die Standardextraktion mehrdeutig wird Es müssen neue Standards entwickelt werden die das unvermeidliche Ringing in den schaltenden Signalformen berücksichtigen so dass die Parameterextraktionen konsistenter sein können ■ Eigenschaften der Sperrverzögerung Bild 7 zeigt einen typischen Ausschnitt aus dem Datenblatt eines 1200-V-SiCMosfets in dem einige Spezifikationen für die Sperrverzögerung beschrieben sind Sperrverzögerungszeit trr Sperrverzögerungsladung Qrr und SpitzenSperrverzögerungsstrom Irrm sind die am häufigsten in Datenblättern angegebenen Parameter In vielen DPT-Aufbauten wird die Lastinduktivität Lmit der Erdungsreferenz verbunden und die Body-Diode im DUT Low-Side-Bauteil getestet Das Low-Side-Bauteil ist ausgeschaltet das High-Side-Bauteil wird gepulst um Lmit dem spezifizierten Strom zu betreiben Einige Datenblätter zeigen den Testaufbau andere überlassen ihn jedoch der Entscheidung des Testingenieurs und geben nur die Testbedingungen an Es gibt übliche Betriebsbedingungen die für die Sperrverzögerungseigenschaften spezifiziert sind ähnlich wie bei den Schalteigenschaften VDD VDS = 800 V ID = 50 A Temperatur = 175 ˚C VGS hat jedoch bei der Sperrverzögerung eine andere Bedeutung Im Beispiel in Bild 7 bezieht sich VGS = -4V auf das Ausschalten des Prüflings mit der zu testenden Body-Diode Note 1 im Bild spezifiziert die Maximalwerte VGSmax = -4V +19V für die Ansteuerung des High-Side-Mosfets in der DPT-Konfiguration Der High-Side-Mosfet treibt die Doppelpulse an um die Sperrverzögerung des DUT ausgeschalteter Mosfet zu testen Der Grund warum nur ein Maximum angegeben wird wird in einem Absatz weiter unten ersichtlich Die letzte Testbedingung ist diF dt 1000 A µs Hier muss bekannt sein wie die Signalform extrahiert wird um zu interpretieren was gemeint ist In der IndusBild 6 Einschaltvorgang VDS rot ID grün VGS blau Incircuit-Funktionstestsysteme Adaptionen Kabeltester ▷ Testsysteme für elektronische Flachbaugruppen Module und Geräte für die Qualitätssicherung ▷ Incircuitund Funktionstest Boundary Scan Mehrfachnutzentest Paralleltest auch Flashen Displaytest EOL ▷ praxisnahe und anwenderfreundliche Testprogrammerstellung hohe Prüfschärfe und Prüftiefe ▷ breitestes Spektrum an Produkten für das automatische Testen aus eigener Entwicklung ▷ Standalone und Inline-Einsatz ▷ manuelle und pneumatische Adaptionen ▷ Niederhaltersysteme für bis zu 1000 gefederte Kontaktstifte ▷ austauschbare Adapterplatten Nadelbett ▷ langlebig und geringe Folgekosten ▷ MCT192 Kabelund Backplanetester mit 192 Messkanälen ▷ Teststecker für viele gängige Kabel ▷ optionales Lochrasterfeld ▷ Prüfprogrammerstellung mit Autolern von einem Goldenen Prüfl ing oder über Softwareeditor REINHARDT Systemund Messelectronic GmbH Bergstr 33 D-86911 Diessen Tel 08196 934100 Fax 08196 7005 E-Mail info@reinhardttestsystem de http www reinhardttestsystem de Reinhardt_D+E_0321+Rpdf S 1 Format 90 00 x 130 00 mm 24 Mar 2021 11 54 47 Anzeige trie gibt es mehrere Standards die die Extraktion der Sperrverzögerungsparameter definieren daher ist es wichtig zu verstehen welcher verwendet wird Wie bereits erwähnt enthalten die Datenblätter oft ein Diagramm das zeigt wie die Parameter extrahiert werden Bild 8 I Fist der Vorwärtsstrom der durch die Body-Diode fließt umgekehrte Polarität für den Mosfet Er wird erzeugt wenn