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6 Elektronik 0 9 2022 GMM-News Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen Erfolgreicher Workshop mit gesellschaftlicher Relevanz Zum 34 Mal fand vom 27 Februar bis zum 1 März 2022 der Workshop »Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen« statt Besonders in Zeiten der Chipkrise und mit den Initiativen zur Technologiesouveränität Deutschlands bzw der EU sind die Kernthemen des Workshops von höchster Relevanz »Europäische IC-Industrie schafft Souveränität« »Autoindustrie gewarnt Ende des Chipmangels ist nicht in Sicht« und »Autonomes Fahren Gefahr durch Hacker?« sind nur einige der Schlagzeilen die aktuell breite gesellschaftliche Beachtung finden und den inhaltlichen Kern der Fachgruppe »Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen« betreffen Das Forum für Expertinnen und Experten aus dem Bereich »Test und Zuverlässigkeit« fand dieses Jahr im Atlantic Hotel Sail City in Bremerhaven statt und damit in der 34-jährigen Historie des Forums erstmalig an der Nordseeküste Der Workshop der Fachgruppe »Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen« von GI GMM und ITG wurde vom 27 Februar bis 1 März 2022 als Präsenzveranstaltung – unter strenger Beachtung der Hygienevorschriften – erfolgreich durchgeführt Fokus auf hoher Qualität In diesem Jahr nahmen 47 Teilnehmerinnen und Teilnehmer aus der Industrie und von Forschungseinrichtungen aus ganz Deutschland teil um Ideen Trends und Herausforderungen zu erörtern und zu diskutieren Das Präsenzformat wurde dankend angenommen was die Relevanz eines physischen Treffens für den wissenschaftlichen Austausch weiter unterstreicht Den Rahmen bildete ein Programm aus zwei eingeladenen Vorträgen Keynotes vier technischen Sitzungen sowie einem neuen Format bestehend aus zwei Pitch-Talk-Sitzungen inklusive damit verbundener Präsentation am Poster Jeder eingereichte Beitrag wurde im Vorfeld durch ein Expertengremium vierfach begutachtet und selektiert wodurch eine hohe Qualität der letztlich angenommen Beiträge erzielt wurde Im Gegensatz zu wissenschaftlichen Publikationen auf Konferenzen oder in Fachzeitschriften ist der Anspruch an die Workshop-Beiträge den Teilnehmenden auch Ideen sowie den Stand der Technik vorzustellen Die Tagungsleitung des diesjährigen Workshops hatte Dr Sebastian Huhn von der Universität Bremen DFKI inne den Vorsitz des Programmkomitees bekleidete Prof Dr Görschwin Fey von der Technischen Universität Hamburg und die lokale Organisation leitete Kristiane Schmitt vom DFKI Die technischen Sitzungen beschäftigten sich unter anderem mit der Diagnose Verifikation und Validation von Systemen der Charakterisierung von Silizium sowie der Analyse von Fabrikationsfehlern zur Erhöhung der erzielbaren Ausbeute Ferner wurden neue Anwendungen von formalen Methoden diskutiert um heuristische Ansätze mit exakten Techniken zu ergänzen Sicherheit und Resilienz Eine Keynote von Andreas Lentz NXP Semiconductors mit dem Titel »Can test bridge the last gap between safety and security?« erörterte die Frage warum die Sicherheit und der Schutz bei zukünftigen Automobilsystemen zwangsläufig Hand in Hand gehen müssen Dazu wurden Implementierungen von Sicherheit und Schutz als koexistierende Funktionen innerhalb eines Automobilsystems eingeführt Darauf basierend wurde gezeigt wie sich diese zwei Aspekte vereinigen lassen um nicht nur die notwendigen Anforderungen an Schaltkreise der nächsten Generation zu erfüllen sondern darüber hinaus den Kosten-Overhead zu reduzieren Die zweite Keynote mit dem Titel »Modelbased resilience in the context of complex sociotechnical systems« hielt Dr Frank Sill Torres Deutsches Zentrum für Luftund Raumfahrt DLR Die Teilnehmer des diesjährigen Workshops vor dem Atlantic Hotel Sail City in Bremerhaven Bild Dr Sebastian Huhn Uni Bremen